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  • TI-45N 超声波测厚仪

    美国ELECTROMATICEquiptCo.,Inc.(CECKLINE)创立于1958年,半个多世纪以来CHECKLINE品牌一直以坚守成本效益宗旨,为工业测量领域提供*的应用方案

    更新时间:2026-08-04
    产品型号:
    浏览量:534
  • TI-CMXDLP 超声波测厚仪

    更新时间:2026-08-04
    产品型号:
    浏览量:503
  • TI-CMX 超声波测厚仪

    TheCheck-LineTI-CMXaccuratelymeasurescoatingandwallthicknessonawiderangeofmaterials

    更新时间:2026-08-04
    产品型号:
    浏览量:507
  • TI-MVX 超声波测厚仪

    ThenewCHECK-LINETI-MVXoffersaseriesofadvancedfeaturesincludingA-Scan,B-ScanaswellasacompletealphanumericdataloggingsystemwithstoragecapacityofthousandsofdatavaluesandA-scancaptures

    更新时间:2026-08-04
    产品型号:
    浏览量:532
  • TI-PVX 高精度轴向扫描超声波测厚仪

    ThenewTI-PVXPrecisionUltrasonicWallthicknessgaugeprovidestheThenewTI-PVXPrecisionUltrasonicWallthicknessgaugeprovidestheflexibilitynecessaryforbothhighresolutionandpenetrationrequirements

    更新时间:2026-08-04
    产品型号:
    浏览量:770
  • 3000EZ 膜厚仪

    ChecklineDCF-3000EZ–铁基型Check-LineDCFN-3000EZ–合成铁基和非铁基型铁基型量程:0-140mils(0-3500um)非铁基型量程:0-120mils(0-3000um)美国ELECTROMATICEquiptCo.,Inc.(CECKLINE)创立于1958年

    更新时间:2026-08-04
    产品型号:
    浏览量:718
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